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資料名：
巻： 47 号： 7 Issue 1 ページ： 5304-5308 発行年： 2008年07月25日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902207137765646
整理番号：08A0790737
リフレッシュ時間志向のダイナミックランダムアクセスメモリの設計のための捕獲準位のゆらぎによる統計的p-n接合の漏れの模型
Statistical p-n Junction Leakage Model via Trap Level Fluctuation for Refresh-Time-Oriented Dynamic Random Access Memory Design
KAMOHARA Shiro
(Renesas Technol. Corp., Ibaraki, JPN)
,
KAMOHARA Shiro
(Tokyo Metropolitan Univ., Tokyo, JPN)
,
KUBOTA Katsuhiko
(Renesas Technol. Corp., Ibaraki, JPN)
,
MONIWA Masahiro
(Renesas Technol. Corp., Ibaraki, JPN)
,
OKUMURA Tsugunori
(Tokyo Metropolitan Univ., Tokyo, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 47 号： 7 Issue 1 ページ： 5304-5308 発行年： 2008年07月25日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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