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文献
J-GLOBAL ID:200902209476325801   整理番号:05A0128471

非接触原子間力顕微鏡によるGe/Si(105)表面上のすべてのダングリングボンドとそのポテンシャルのイメージング

Imaging of all Dangling Bonds and their Potential on the Ge/Si(105) Surface by Noncontact Atomic Force Microscopy
著者 (9件):
EGUCHI T
(Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN)
FUJIKAWA Y
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
AKIYAMA K
(Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN)
AN T
(Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN)
HASHIMOTO T
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
MORIKAWA Y
(Osaka Univ., Ibaraki, JPN)
TERAKURA K
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
SAKURAI T
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
LAGALLY M G
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin, USA)

資料名:
Physical Review Letters  (Physical Review Letters)

巻: 93  号: 26,Pt.1  ページ: 266102.1-266102.4  発行年: 2004年12月31日 
JST資料番号: H0070A  ISSN: 0031-9007  CODEN: PRLTAO  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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