文献
J-GLOBAL ID:200902209476325801
整理番号:05A0128471
非接触原子間力顕微鏡によるGe/Si(105)表面上のすべてのダングリングボンドとそのポテンシャルのイメージング
Imaging of all Dangling Bonds and their Potential on the Ge/Si(105) Surface by Noncontact Atomic Force Microscopy
著者 (9件):
EGUCHI T
(Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN)
,
FUJIKAWA Y
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
AKIYAMA K
(Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN)
,
AN T
(Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN)
,
HASHIMOTO T
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
,
MORIKAWA Y
(Osaka Univ., Ibaraki, JPN)
,
TERAKURA K
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
,
SAKURAI T
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
LAGALLY M G
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin, USA)
資料名:
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻:
93
号:
26,Pt.1
ページ:
266102.1-266102.4
発行年:
2004年12月31日
JST資料番号:
H0070A
ISSN:
0031-9007
CODEN:
PRLTAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)