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文献
J-GLOBAL ID:200902212153013097   整理番号:07A0157766

Stranski-Krastanowモードにおいて成長されたInAs量子ドットの原子間力顕微鏡観察における先端人工物

Tip artifact in atomic force microscopy observations of InAs quantum dots grown in Stranski-Krastanow mode
著者 (10件):
SHIRAMINE Ken-ichi
(Dep. of Applied Physics, Graduate School of Engineering, Hokkaido Univ., Sapporo 060-8628, JPN)
MUTO Shunichi
(Dep. of Applied Physics, Graduate School of Engineering, Hokkaido Univ., Sapporo 060-8628, JPN)
SHIBAYAMA Tamaki
(Center for Advanced Res. of Energy Conversion Materials, Hokkaido Univ., Sapporo 060-8628, JPN)
SAKAGUCHI Norihito
(Center for Advanced Res. of Energy Conversion Materials, Hokkaido Univ., Sapporo 060-8628, JPN)
ICHINOSE Hideki
(Center for Advanced Res. of Energy Conversion Materials, Hokkaido Univ., Sapporo 060-8628, JPN)
KOZAKI Tamotsu
(Div. of Energy and Environmental System, Graduate School of Engineering,Hokkaido Univ., Sapporo 060-8628, JPN)
SATO Seichi
(Div. of Energy and Environmental System, Graduate School of Engineering,Hokkaido Univ., Sapporo 060-8628, JPN)
NAKATA Yoshiaki
(Fujitsu Laboratories, Ltd., Atsugi 243-0197, JPN)
YOKOYAMA Naoki
(Fujitsu Laboratories, Ltd., Atsugi 243-0197, JPN)
TANIWAKI Masafumi
(Dep. of Environmental Systems Engineering, Kochi Univ. of Technol., Tosayamada, Kochi 782-8502, JPN)

資料名:
Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)

巻: 101  号:ページ: 033527-033527-5  発行年: 2007年02月01日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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