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資料名：
巻： 39 号： 14 ページ： 1086-1088 発行年： 2003年07月10日
JST資料番号： A0887A ISSN： 0013-5194 CODEN： ELLEAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902212271260848
整理番号：03A0528091
NbN超伝導単一フォトン検出器を用いた,非侵襲性CMOS回路テスト方法
Noninvasive CMOS circuit testing with NbN superconducting single-photon detectors
ZHANG J
(Univ. Rochester, NY, USA)
,
BOIADJIEVA N
(NPTest Inc., CA, USA)
,
CHULKOVA G
(Moscow State Pedagogical Univ., Moscow, RUS)
,
DESLANDES H
(NPTest Inc., CA, USA)
,
GOL’TSMAN G N
(Moscow State Pedagogical Univ., Moscow, RUS)
,
KORNEEV A
(Moscow State Pedagogical Univ., Moscow, RUS)
,
LEIBOWITZ M
(NPTest Inc., CA, USA)
,
PEARLMAN A
(Univ. Rochester, NY, USA)
,
SOBOLEWSKI R
(Univ. Rochester, NY, USA)
資料名：
Electronics Letters
(Electronics Letters)
巻： 39 号： 14 ページ： 1086-1088 発行年： 2003年07月10日
JST資料番号： A0887A ISSN： 0013-5194 CODEN： ELLEAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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