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資料名：
巻： 76 号： 9 ページ： 094903-094903-8 発行年： 2005年09月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902212595857120
整理番号：05A0990825
薄膜の熱物理特性測定用ピコ秒サーモリフレクタンス法における電気的遅延技術
Electrical delay technique in the picosecond thermoreflectance method for thermophysical property measurements of thin films
TAKETOSHI Naoyuki
(National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono ...)
,
BABA Tetsuya
(National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono ...)
,
ONO Akira
(National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono ...)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 76 号： 9 ページ： 094903-094903-8 発行年： 2005年09月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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