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著者 (6件)：
資料名：
巻： 93 号： 4 ページ： 042907 発行年： 2008年07月28日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902213621623163
整理番号：08A0818586
多結晶BiFeO3薄膜の電場下でのX線回折研究
X-ray diffraction study of polycrystalline BiFeO3 thin films under electric field
NAKASHIMA Seiji
(Dep. of Systems Innovation, Graduate School of Engineering Sci., Osaka Univ., 1-3 Machikaneyama-Cho, Toyonaka, Osaka ...)
,
SAKATA Osami
(Japan Synchrotron Radiation Res. Institute/SPring-8, Kouto, Sayo-cho, Sayo-gun, Hyogo 679-5198, JPN)
,
NAKAMURA Yoshitaka
(Dep. of Systems Innovation, Graduate School of Engineering Sci., Osaka Univ., 1-3 Machikaneyama-Cho, Toyonaka, Osaka ...)
,
KANASHIMA Takeshi
(Dep. of Systems Innovation, Graduate School of Engineering Sci., Osaka Univ., 1-3 Machikaneyama-Cho, Toyonaka, Osaka ...)
,
FUNAKUBO Hiroshi
(Dep. of Innovative and Engineered Materials, Interdisciplinary Graduate School of Sci. and Technol., Tokyo Inst. of ...)
,
OKUYAMA Masanori
(Dep. of Systems Innovation, Graduate School of Engineering Sci., Osaka Univ., 1-3 Machikaneyama-Cho, Toyonaka, Osaka ...)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 93 号： 4 ページ： 042907 発行年： 2008年07月28日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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