文献
J-GLOBAL ID:200902214098061349
整理番号:06A0784282
光学圧痕顕微鏡法-装置化された圧痕試験法の新ファミリー
Optical indentation microscopy-a new family of instrumented indentation testing
著者 (2件):
MIYAJIMA T.
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Nagoya, JPN)
,
SAKAI M.
(Toyohashi Univ. Technol., Toyohashi, JPN)
資料名:
Philosophical Magazine
(Philosophical Magazine)
巻:
86
号:
33/35
ページ:
5729-5737
発行年:
2006年11月21日
JST資料番号:
E0753C
ISSN:
1478-6435
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)