文献
J-GLOBAL ID:200902215734663270
整理番号:08A0550741
ワイドバンドギャップZnOにおける高温強度と転位移動度 種々の半導体との比較
High-temperature strength and dislocation mobility in the wide band-gap ZnO: Comparison with various semiconductors
著者 (4件):
YONENAGA I.
(Inst. for Materials Res., Tohoku Univ., Sendai 980-8577, JPN)
,
KOIZUMI H.
(Inst. for Materials Res., Tohoku Univ., Sendai 980-8577, JPN)
,
OHNO Y.
(Inst. for Materials Res., Tohoku Univ., Sendai 980-8577, JPN)
,
TAISHI T.
(Inst. for Materials Res., Tohoku Univ., Sendai 980-8577, JPN)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
103
号:
9
ページ:
093502
発行年:
2008年05月01日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)