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文献
J-GLOBAL ID:200902221512601756   整理番号:08A0277159

Sc修飾エピタクシャル(Ba,Sr)TiO3薄膜における誘電率及び弾性歪の異常膜厚依存性

Unusual thickness dependence of permittivity and elastic strain in Sc modified epitaxial (Ba,Sr)TiO3 thin films
著者 (6件):
PARK Woo Young
(Dep. of Materials Sci. and Engineering and Inter-university Semiconductor Res. Center, Seoul National Univ., Seoul ...)
HWANG Cheol Seong
(Dep. of Materials Sci. and Engineering and Inter-university Semiconductor Res. Center, Seoul National Univ., Seoul ...)
BANIECKI John D.
(Fujitsu Laboratories Ltd., Atsugi 243-0197, JPN)
ISHII Masatoshi
(Fujitsu Laboratories Ltd., Atsugi 243-0197, JPN)
KURIHARA Kazuaki
(Fujitsu Laboratories Ltd., Atsugi 243-0197, JPN)
YAMANAKA Kazunori
(Fujitsu Laboratories Ltd., Atsugi 243-0197, JPN)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 92  号: 10  ページ: 102902  発行年: 2008年03月10日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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