文献
J-GLOBAL ID:200902221512601756
整理番号:08A0277159
Sc修飾エピタクシャル(Ba,Sr)TiO3薄膜における誘電率及び弾性歪の異常膜厚依存性
Unusual thickness dependence of permittivity and elastic strain in Sc modified epitaxial (Ba,Sr)TiO3 thin films
著者 (6件):
PARK Woo Young
(Dep. of Materials Sci. and Engineering and Inter-university Semiconductor Res. Center, Seoul National Univ., Seoul ...)
,
HWANG Cheol Seong
(Dep. of Materials Sci. and Engineering and Inter-university Semiconductor Res. Center, Seoul National Univ., Seoul ...)
,
BANIECKI John D.
(Fujitsu Laboratories Ltd., Atsugi 243-0197, JPN)
,
ISHII Masatoshi
(Fujitsu Laboratories Ltd., Atsugi 243-0197, JPN)
,
KURIHARA Kazuaki
(Fujitsu Laboratories Ltd., Atsugi 243-0197, JPN)
,
YAMANAKA Kazunori
(Fujitsu Laboratories Ltd., Atsugi 243-0197, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
92
号:
10
ページ:
102902
発行年:
2008年03月10日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)