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資料名：
巻： 42 号： 4B ページ： 2408-2411 発行年： 2003年04月30日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902222645787751
整理番号：03A0393132
X線定在波方法によるビスマス・ナノワイヤの構造解析
Structural Analysis of Bismuth Nanowire by X-Ray Standing Wave Method
SAITO A
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
MATOBA K
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KURATA T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
MARUYAMA J
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KUWAHARA Y
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
MIKI K
(NIMS, Ibaraki, JPN)
,
AONO M
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 42 号： 4B ページ： 2408-2411 発行年： 2003年04月30日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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