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著者 (5件)：
資料名：
巻： 54 号： 12 ページ： 3383-3392 発行年： 2007年12月
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902223143399320
整理番号：07A1231163
0.13μm RF nMOSFETにおけるSTI効果がフリッカ雑音に及ぼす影響
Impact of STI Effect on Flicker Noise in 0.13-μm RF nMOSFETs
CHAN Chih-Yuan
(National Tsing Hua Univ., Hsinchu, TWN)
,
LIN Yu-Syuan
(National Tsing Hua Univ., Hsinchu, TWN)
,
HUANG Yen-Chun
(National Tsing Hua Univ., Hsinchu, TWN)
,
HSU Shawn S. H.
(National Tsing Hua Univ., Hsinchu, TWN)
,
JUANG Ying-Zong
(National Chip Implementation Center, Hsinchu, TWN)
資料名：
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 54 号： 12 ページ： 3383-3392 発行年： 2007年12月
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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