文献
J-GLOBAL ID:200902227620240067
整理番号:09A0537412
非弾性電子トンネル分光法によるトンネル接合におけるAlOx障壁酸化状態の評価
Estimation of oxidation states of AlO x barriers in a tunneling junction by inelastic electron tunneling spectroscopy
著者 (3件):
HORIKIRI K.
(Dep. of Applied Physics and Physico-Informatics, Keio Univ., 3-14-1, Hiyoshi, Kohoku-ku, Yokohama, Kanagawa ...)
,
MORIZUMI M.
(Dep. of Applied Physics and Physico-Informatics, Keio Univ., 3-14-1, Hiyoshi, Kohoku-ku, Yokohama, Kanagawa ...)
,
SHIIKI K.
(Dep. of Applied Physics and Physico-Informatics, Keio Univ., 3-14-1, Hiyoshi, Kohoku-ku, Yokohama, Kanagawa ...)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
517
号:
18
ページ:
5576-5579
発行年:
2009年07月31日
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)