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文献
J-GLOBAL ID:200902227645913376   整理番号:03A0171805

ナノビーム二次イオン質量分析装置の試作と評価

Development and estimation of a nano-beam secondary ion mass spectrometry apparatus.
著者 (7件):
野島雅
(東大 生産技研)
神田雄介
(東大 生産技研)
戸井雅之
(東大 生産技研)
冨安文武乃進
(東大 環境安全研セ)
坂本哲夫
(東大 生産技研)
尾張真則
(東大 生産技研)
二瓶好正
(東大 生産技研)

資料名:
分析化学

巻: 52  号:ページ: 179-185  発行年: 2003年03月05日 
JST資料番号: F0008A  ISSN: 0525-1931  CODEN: BNSKAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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