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文献
J-GLOBAL ID:200902228989539577   整理番号:08A0095590

より低いEMI雑音とより低いスイッチング損失を特徴とする次世代1200VトレンチゲートFS-IGBTの開発

Development of the next generation 1200V trench-gate FS-IGBT featuring lower EMI noise and lower switching loss
著者 (6件):
ONOZAWA Y.
(Fuji Electric Device Technol. Co., Ltd., Nagano, JPN)
NAKANO H.
(Fuji Electric Device Technol. Co., Ltd., Nagano, JPN)
OTSUKI M.
(Fuji Electric Device Technol. Co., Ltd., Nagano, JPN)
YOSHIKAWA K.
(Fuji Electric Advanced Technol. Co., Ltd.)
MIYASAKA T.
(Fuji Electric Device Technol. Co., Ltd., Nagano, JPN)
SEKI Y.
(Fuji Electric Holdings Co., Ltd.)

資料名:
Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs  (Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs)

巻: 19th  ページ: 13-16  発行年: 2007年 
JST資料番号: W1300A  ISSN: 1943-653X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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