文献
J-GLOBAL ID:200902228989539577
整理番号:08A0095590
より低いEMI雑音とより低いスイッチング損失を特徴とする次世代1200VトレンチゲートFS-IGBTの開発
Development of the next generation 1200V trench-gate FS-IGBT featuring lower EMI noise and lower switching loss
著者 (6件):
ONOZAWA Y.
(Fuji Electric Device Technol. Co., Ltd., Nagano, JPN)
,
NAKANO H.
(Fuji Electric Device Technol. Co., Ltd., Nagano, JPN)
,
OTSUKI M.
(Fuji Electric Device Technol. Co., Ltd., Nagano, JPN)
,
YOSHIKAWA K.
(Fuji Electric Advanced Technol. Co., Ltd.)
,
MIYASAKA T.
(Fuji Electric Device Technol. Co., Ltd., Nagano, JPN)
,
SEKI Y.
(Fuji Electric Holdings Co., Ltd.)
資料名:
Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs
(Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs)
巻:
19th
ページ:
13-16
発行年:
2007年
JST資料番号:
W1300A
ISSN:
1943-653X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)