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著者 (2件)：
資料名：
巻： 74 号： 12 ページ： 5115-5117 発行年： 2003年12月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902231361751586
整理番号：04A0039144
原子間力顕微鏡に用いた光学レバー偏向法における漏話の補償
Compensation of cross talk in the optical lever deflection method used in atomic force microscopy
FUJISAWA S
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
,
OGISO H
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 74 号： 12 ページ： 5115-5117 発行年： 2003年12月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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