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著者 (1件)：
資料名：
巻： 103 号： 6 ページ： 063521 発行年： 2008年03月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902233263428184
整理番号：08A0340577
多結晶SiCにおけるアンチサイト欠陥の解析と配置
Analysis and location of antisite defects in polycrystalline SiC
TAKESHITA Tetsuyoshi
(Dep. of Electronics and Information Engineering, Ishikawa National Coll. of Technol., Tsubata, Kahoku-gun, Ishikawa ...)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 103 号： 6 ページ： 063521 発行年： 2008年03月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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