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文献
J-GLOBAL ID:200902234460799344   整理番号:03A0783196

X線異常回折で調べた単結晶CaFeO3薄膜における電荷秩序状態

Charge-Ordered State in Single-Crystalline CaFeO3 Thin Film Studied by X-Ray Anomalous Diffraction
著者 (9件):
AKAO T
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
AZUMA Y
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
USUDA M
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
NISHIHATA Y
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
MIZUKI J
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
HAMADA N
(Sci. Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
HAYASHI N
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
TERASHIMA T
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
TAKANO M
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)

資料名:
Physical Review Letters  (Physical Review Letters)

巻: 91  号: 15  ページ: 156405.1-156405.4  発行年: 2003年10月10日 
JST資料番号: H0070A  ISSN: 0031-9007  CODEN: PRLTAO  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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