文献
J-GLOBAL ID:200902236606497364
整理番号:04A0606551
シリル化多孔質シリコン上脱離/イオン化質量分析の高感度性と分析物捕捉
High Sensitivity and Analyte Capture with Desorption/Ionization Mass Spectrometry on Silylated Porous Silicon
著者 (8件):
SIUZDAK G
(Scripps Res. Inst., California)
,
GO E P
(Scripps Res. Inst., California)
,
SHEN Z
(Waters Corp., Massachusetts)
,
APON J V
(Scripps Res. Inst., California)
,
COMPTON B J
(Mass Consortium Corp., California)
,
BOUVIER E S P
(Mass Consortium Corp., California)
,
FINN M G
(Scripps Res. Inst., California)
,
TRAUGER S A
(Scripps Res. Inst., California)
資料名:
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻:
76
号:
15
ページ:
4484-4489
発行年:
2004年08月01日
JST資料番号:
A0395A
ISSN:
0003-2700
CODEN:
ANCHAM
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)