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著者 (6件)：
資料名：
巻： 95 号： 7 ページ： 3404-3410 発行年： 2004年04月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902238685845723
整理番号：04A0304621
遅い陽電子で探測した酸素注入シリコン中の空格子点-酸素複合体の同定
Identification of vacancy-oxygen complexes in oxygen-implanted silicon probed with slow positrons
FUJINAMI M
(Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN)
,
MIYAGOE T
(Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN)
,
SAWADA T
(Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN)
,
SUZUKI R
(National Inst Advanced Industiral Sci. and Technol., Tsukuba, JPN)
,
OHDAIRA T
(National Inst Advanced Industiral Sci. and Technol., Tsukuba, JPN)
,
AKAHANE T
(National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 95 号： 7 ページ： 3404-3410 発行年： 2004年04月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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