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著者 (5件)：
資料名：
巻： 50 号： 6 ページ： 1572-1575 (J-STAGE) 発行年： 2009年
JST資料番号： G0668A ISSN： 1345-9678 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902240651089657
整理番号：09A0530986
マイクロプローブを有するTEMを用いたサブミクロンサイズの材料の精密な抵抗率測定
Precise Resistivity Measurement of Submicrometer-Sized Materials by Using TEM with Microprobes
KAWAMOTO N.
(Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ.)
,
MURAKAMI Y.
(Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ.)
,
SHINDO D.
(Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ.)
,
AZEHARA H.
(Nanotechnology Res. Center, Res. Inst. for Electronic Sci., Hokkaido Univ.)
,
TOKUMOTO H.
(Nanotechnology Res. Center, Res. Inst. for Electronic Sci., Hokkaido Univ.)
資料名：
Materials Transactions
(Materials Transactions)
巻： 50 号： 6 ページ： 1572-1575 (J-STAGE) 発行年： 2009年
JST資料番号： G0668A ISSN： 1345-9678 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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