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J-GLOBAL ID:200902242055515617   整理番号:06A0749488

強誘電体薄膜 材料,特性,及び応用のレビュー

Ferroelectric thin films: Review of materials, properties, and applications
著者 (15件):
SETTER N.
(Ceramics Lab., Swiss Federal Inst. of Technol. (EPFL), CH-1015 Lausanne, CHE)
DAMJANOVIC D.
(Ceramics Lab., Swiss Federal Inst. of Technol. (EPFL), CH-1015 Lausanne, CHE)
ENG L.
(Inst. of Applied Physics/Photophysics, Univ. of Technol. Dresden, Dresden D-01062, DEU)
FOX G.
(Ramtron Int. Corp., Colorado Springs, Colorado 80921)
GEVORGIAN S.
(Dep. of Microtechnology and Nanoscience, Chalmers Univ. of Technol., SE-41296 Gothenburg, Sweden and Microwave and ...)
HONG S.
(Nano Devices Lab., Samsung Advanced Inst. of Technol., Suwon, 440-600, KOR)
KINGON A.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, North Carolina State Univ., Raleigh, North Carolina 27695-7919)
KOHLSTEDT H.
(Inst. fuer Festkoerperforschung (IFF), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, DEU)
PARK N. Y.
(Nano Devices Lab., Samsung Advanced Inst. of Technol., Suwon, 440-600, KOR)
STEPHENSON G. B.
(Materials Sci. Div., Argonne National Lab., Argonne, Illinois 60439)
STOLITCHNOV I.
(Ceramics Lab., Swiss Federal Inst. of Technol., EPFL, CH-1015 Lausanne, CHE)
TAGANSTEV A. K.
(Ceramics Lab., Swiss Federal Inst. of Technol., EPFL, CH-1015 Lausanne, CHE)
TAYLOR D. V.
(Ceramics Lab., Swiss Federal Inst. of Technol., EPFL, CH-1015 Lausanne, CHE)
YAMADA T.
(Ceramics Lab., Swiss Federal Inst. of Technol., EPFL, CH-1015 Lausanne, CHE)
STREIFFER S.
(Materials Sci. Div., Argonne National Lab., Argonne, Illinois 60439)

資料名:
Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)

巻: 100  号:ページ: 051606-051606-46  発行年: 2006年09月01日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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