文献
J-GLOBAL ID:200902242673062305
整理番号:03A0762864
誘導結合プラズマ中のAr/CHF3,Ar/Cl2,及びAr/BCl3ガス化学を用いたTiN膜のドライエッチング特性
Dry etching characteristics of TiN film using Ar/CHF3, Ar/Cl2, and Ar/BCl3 gas chemistries in an inductively coupled plasma
著者 (6件):
TONOTANI J
(Toshiba Corp., Yokohama, JPN)
,
IWAMOTO T
(Toshiba Corp., Yokohama, JPN)
,
SATO F
(Toshiba Corp., Oita, JPN)
,
HATTORI K
(Toshiba Corp., Oita, JPN)
,
OHMI S
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
,
IWAI H
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
資料名:
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻:
21
号:
5
ページ:
2163-2168
発行年:
2003年09月
JST資料番号:
E0974A
ISSN:
1071-1023
CODEN:
JVTBD9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)