文献
J-GLOBAL ID:200902242932949682
整理番号:07A0915218
Ge-Si液体合金のシンクロトロン放射を用いたX線回折測定
X-ray diffraction measurements for liquid Ge-Si alloys using synchrotron radiation
著者 (4件):
NAITO Y.
(Graduate School of Biosphere Sci., Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima 739-8521, JPN)
,
INUI M.
(Graduate School of Integrated Arts and Sciences, Hiroshima Univ., Kagamiyama 1-7-1, Higashi-Hiroshima 739-8521, JPN)
,
ANAI T.
(Fac. of Integrated Arts and Sciences, Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima 739-8521, JPN)
,
TAMURA K.
(Graduate School of Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 606-8501, JPN)
資料名:
Journal of Non-Crystalline Solids
(Journal of Non-Crystalline Solids)
巻:
353
号:
32-40
ページ:
3376-3379
発行年:
2007年10月15日
JST資料番号:
D0642A
ISSN:
0022-3093
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)