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文献
J-GLOBAL ID:200902243671102306   整理番号:06A0576757

高輝度の無電極Z-ピンチ型EUV光源の測定,検査およびレジストの現像への応用

Application of a high-brightness electrodeless Z-pinch EUV source for metrology, inspection, and resist development.
著者 (5件):
HORNE Stephen F.
(Energetiq Technol. Inc.)
BESEN Matthew M.
(Energetiq Technol. Inc.)
SMITH Donald K.
(Energetiq Technol. Inc.)
BLACKBOROW Paul A.
(Energetiq Technol. Inc.)
D’AGOSTINO Robert
(Energetiq Technol. Inc.)

資料名:
Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)

巻: 6151  号: Pt.1  ページ: 61510P.1-61510P.10  発行年: 2006年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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