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文献
J-GLOBAL ID:200902243768005445   整理番号:08A0425753

中性粒子ビームALD法により作製したHfO2膜の構造解析と電気特性評価

著者 (5件):
生駒亨
(東北大 流体科研)
佐野慶佑
(東北大 流体科研)
小金澤智之
(高輝度科学研究セ)
広沢一郎
(高輝度科学研究セ)
寒川誠二
(東北大 流体科研)

資料名:
応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)

巻: 55th  号:ページ: 841  発行年: 2008年03月27日 
JST資料番号: Y0054A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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