文献
J-GLOBAL ID:200902247566605071
整理番号:04A0065301
窒化ケイ素粉末表面のSiHx吸収バンドの拡散反射フーリエ変換赤外線分光による解析
SiHx Absorbance Bands in Si3N4 Powder Surfaces Analyzed by Diffuse Reflectance Infrared Fourier Transform Spectroscopy
著者 (3件):
HIEN T T T
(Nagaoka Univ. Technol., Niigata)
,
ISHIZAKI C
(Nagaoka Univ. Technol., Niigata)
,
ISHIZAKI K
(Nagaoka Univ. Technol., Niigata)
資料名:
日本セラミックス協会学術論文誌
(Journal of the Ceramic Society of Japan)
巻:
112
号:
1301
ページ:
1-5
発行年:
2004年01月01日
JST資料番号:
F0382A
ISSN:
0914-5400
CODEN:
JCSJEW
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)