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著者 (5件)：
資料名：
巻： E91-D 号： 3 ページ： 690-699 発行年： 2008年03月01日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902247718319940
整理番号：08A0224645
縮退テストツールを用いたトランジスタ短絡に対する故障シミュレーションとテスト生成
Fault Simulation and Test Generation for Transistor Shorts Using Stuck-at Test Tools
HIGAMI Yoshinobu
(Ehime Univ., Matsuyama-shi, JPN)
,
SALUJA Kewal K.
(Univ. Wisconsin-Madison, USA)
,
TAKAHASHI Hiroshi
(Ehime Univ., Matsuyama-shi, JPN)
,
KOBAYASHI Shin-ya
(Ehime Univ., Matsuyama-shi, JPN)
,
TAKAMATSU Yuzo
(Ehime Univ., Matsuyama-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E91-D 号： 3 ページ： 690-699 発行年： 2008年03月01日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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