文献
J-GLOBAL ID:200902248732120037
整理番号:06A0076445
PINフォトダイオードの不感表面層の厚みの測定
Measurement of the thickness of an insensitive surface layer of a PIN photodiode
著者 (3件):
AKIMOTO Y.
(Dep. of Physics, School of Sci., Univ. of Tokyo, 7-3-1, Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, JPN)
,
INOUE Y.
(International Center for Elementary Particle Physics, Univ. of Tokyo, 7-3-1, Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, JPN)
,
MINOWA M.
(Dep. of Physics, School of Sci., Univ. of Tokyo, 7-3-1, Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, JPN)
資料名:
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻:
557
号:
2
ページ:
684-687
発行年:
2006年02月15日
JST資料番号:
D0208B
ISSN:
0168-9002
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)