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著者 (3件)：
資料名：
巻： 37 号： 2 ページ： 190-193 発行年： 2005年02月
JST資料番号： E0709A ISSN： 0142-2421 CODEN： SIANDQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902248748169001
整理番号：05A0155177
入射の小さな視射角でのX線回折を用いた表面下の多結晶層の深さプロフィリング
Depth profiling of polycrystalline layers under a surface using x-ray diffraction at small glancing angle of incidence
FUJII Y
(Kobe Univ., Kobe, JPN)
,
KOMAI T
(Kobe Univ., Kobe, JPN)
,
IKEDA K
(Kobe Steel Ltd., Kobe, JPN)
資料名：
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻： 37 号： 2 ページ： 190-193 発行年： 2005年02月
JST資料番号： E0709A ISSN： 0142-2421 CODEN： SIANDQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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