文献
J-GLOBAL ID:200902249105659962
整理番号:06A0965696
AlNに基づいた200nm深紫外光検出器
200 nm deep ultraviolet photodetectors based on AlN
著者 (6件):
LI J.
(III-N Technol., Inc., Manhattan, Kansas 66502)
,
FAN Z. Y.
(III-N Technol., Inc., Manhattan, Kansas 66502)
,
DAHAL R.
(Dep. of Physics, Kansas State Univ., Manhattan, Kansas 66506-2601)
,
NAKARMI M. L
(Dep. of Physics, Kansas State Univ., Manhattan, Kansas 66506-2601)
,
LIN J. Y.
(Dep. of Physics, Kansas State Univ., Manhattan, Kansas 66506-2601)
,
JIANG H. X.
(Dep. of Physics, Kansas State Univ., Manhattan, Kansas 66506-2601)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
89
号:
21
ページ:
213510-213510-3
発行年:
2006年11月20日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)