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著者 (5件)：
資料名：
巻： 43 号： 9A ページ： 6423-6424 発行年： 2004年09月15日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902249194851472
整理番号：04A0786028
高分解能半導体レーザ分光によるYIの超微細構造とZeemanシフトの測定
Measurement of the Hyperfine Structure and Zeeman Shift in Y I by High-Resolution Diode-Laser Spectroscopy
NAKADA H
(Toho Univ., Chiba, JPN)
,
JIN W-G
(Toho Univ., Chiba, JPN)
,
MINOWA T
(Toho Univ., Chiba, JPN)
,
KATSURAGAWA H
(Toho Univ., Chiba, JPN)
,
UEMATSU H
(Tokyo Gakugei Univ., Tokyo, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 43 号： 9A ページ： 6423-6424 発行年： 2004年09月15日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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