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著者 (3件)：
資料名：
巻： 35 号： 1 ページ： 76-79 発行年： 2003年01月
JST資料番号： E0709A ISSN： 0142-2421 CODEN： SIANDQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902249522432687
整理番号：03A0117441
多重薄膜からのX線反射 対称的パターン
X-ray reflection from thin multilayers: Symmetric patterns.
KARIMOV P
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
HARADA S
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
KAWAI J
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名：
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻： 35 号： 1 ページ： 76-79 発行年： 2003年01月
JST資料番号： E0709A ISSN： 0142-2421 CODEN： SIANDQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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