文献
J-GLOBAL ID:200902249524499479
整理番号:06A0370645
対向ターゲット直流スパッタリングによるSi(111)上半導体β-FeSi2薄膜の直接エピタキシャル成長
Direct epitaxial growth of semiconducting β-FeSi2 thin films on Si(111) by facing targets direct-current sputtering
著者 (4件):
YOSHITAKE T.
(Dep. of Applied Sci. for Electronics and Materials, Kyushu Univ., 6-1 Kasuga, Fukuoka 816-8580, JPN)
,
INOKUCHI Y.
(Dep. of Applied Sci. for Electronics and Materials, Kyushu Univ., 6-1 Kasuga, Fukuoka 816-8580, JPN)
,
YURI A.
(Dep. of Applied Sci. for Electronics and Materials, Kyushu Univ., 6-1 Kasuga, Fukuoka 816-8580, JPN)
,
NAGAYAMA K.
(Dep. of Aeronautics, Kyushu Univ., 744 Motooka, Nishi-ku, Fukuoka 819-0395, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
88
号:
18
ページ:
182104-182104-3
発行年:
2006年05月01日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)