文献
J-GLOBAL ID:200902249645826221
整理番号:06A0740071
3C-SiCベースMOSFETsの作製と評価
Fabrication and Characterization of 3C-SiC-Based MOSFETs
著者 (5件):
SCHOENER Adolf
(ACREO AB, Kista-Stockholm, SWE)
,
KRIEGER Michael
(Univ. Erlangen-Nuernberg, Erlangen, DEU)
,
PENSL Gerhard
(Univ. Erlangen-Nuernberg, Erlangen, DEU)
,
ABE Masayuki
(Hoya Advanced Semiconductor Technol. Co. Ltd., Kanagawa, JPN)
,
NAGASAWA Hiroyuki
(Hoya Advanced Semiconductor Technol. Co. Ltd., Kanagawa, JPN)
資料名:
Chemical Vapor Deposition
(Chemical Vapor Deposition)
巻:
12
号:
8/9
ページ:
523-530
発行年:
2006年08月
JST資料番号:
W0908A
ISSN:
0948-1907
CODEN:
CVDEFX
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)