文献
J-GLOBAL ID:200902250792593923
整理番号:07A0106209
いろいろな型の基板上に成長させた歪緩和したGe1-xSixバッファ層の成長と構造の評価
Growth and structure evaluation of strain-relaxed Ge1-xSnx buffer layers grown on various types of substrates
著者 (6件):
TAKEUCHI Shotaro
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
SAKAI Akira
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
YAMAMOTO Koji
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
NAKATSUKA Osamu
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
OGAWA Masaki
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
ZAIMA Shigeaki
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
資料名:
Semiconductor Science and Technology
(Semiconductor Science and Technology)
巻:
22
号:
1
ページ:
S231-S235
発行年:
2007年01月
JST資料番号:
E0503B
ISSN:
0268-1242
CODEN:
SSTEET
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)