文献
J-GLOBAL ID:200902252815101481
整理番号:06A0591823
メタロフラーレンの金属原子の移動に対するフラーレンかご構造の空孔型欠陥のゲート効果
Gate Effect of Vacancy-type Defect of Fullerene Cages on Metal-Atom Migrations in Metallofullerenes
著者 (8件):
YUMURA Takashi
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
,
YUMURA Takashi
(Meijo Univ., Nagoya, JPN)
,
YUMURA Takashi
(Georgetown Univ., Washington, D.C.)
,
SATO Yuta
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
,
SUENAGA Kazutomo
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
,
URITA Koki
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
,
IIJIMA Sumio
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
,
IIJIMA Sumio
(Meijo Univ., Nagoya, JPN)
資料名:
Nano Letters
(Nano Letters)
巻:
6
号:
7
ページ:
1389-1395
発行年:
2006年07月
JST資料番号:
W1332A
ISSN:
1530-6984
CODEN:
NALEFD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)