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文献
J-GLOBAL ID:200902252815101481   整理番号:06A0591823

メタロフラーレンの金属原子の移動に対するフラーレンかご構造の空孔型欠陥のゲート効果

Gate Effect of Vacancy-type Defect of Fullerene Cages on Metal-Atom Migrations in Metallofullerenes
著者 (8件):
YUMURA Takashi
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
YUMURA Takashi
(Meijo Univ., Nagoya, JPN)
YUMURA Takashi
(Georgetown Univ., Washington, D.C.)
SATO Yuta
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
SUENAGA Kazutomo
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
URITA Koki
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
IIJIMA Sumio
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
IIJIMA Sumio
(Meijo Univ., Nagoya, JPN)

資料名:
Nano Letters  (Nano Letters)

巻:号:ページ: 1389-1395  発行年: 2006年07月 
JST資料番号: W1332A  ISSN: 1530-6984  CODEN: NALEFD  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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