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文献
J-GLOBAL ID:200902256099032657   整理番号:03A0284503

テトラキスジエチルアミドハフニウムを経由して析出したHfO2ゲート誘電体

HfO2 Gate Dielectrics Deposited via Tetrakis Diethylamido Hafnium
著者 (9件):
SCHAEFFER J
(Motorola, Inc., Texas, USA)
EDWARDS N V
(Motorola, Inc., Texas, USA)
LIU R
(Motorola, Inc., Texas, USA)
ROAN D
(Motorola, Inc., Texas, USA)
HRADSKY B
(Motorola, Inc., Texas, USA)
GREGORY R
(Motorola, Inc., Texas, USA)
KULIK J
(Motorola, Inc., Texas, USA)
DUDA E
(Motorola, Inc., Texas, USA)
VOIGHT S
(Motorola, Inc., Texas, USA)

資料名:
Journal of the Electrochemical Society  (Journal of the Electrochemical Society)

巻: 150  号:ページ: F67-F74  発行年: 2003年04月 
JST資料番号: C0285A  ISSN: 1945-7111  CODEN: JESOAN  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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