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資料名：
巻： 89 号： 11 ページ： 113124-113124-3 発行年： 2006年09月11日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902256321088038
整理番号：06A0722370
銅線電気抵抗率におよぼすフォノン,幾何構造,不純物と粒子サイズの影響
Influence of phonon, geometry, impurity, and grain size on Copper line resistivity
PLOMBON J. J.
(Intel Corp., 5200 N. E. Elam Young Parkway, Hillsboro, Oregon 97124-6497)
,
ANDIDEH Ebrahim
(Intel Corp., 5200 N. E. Elam Young Parkway, Hillsboro, Oregon 97124-6497)
,
DUBIN Valery M.
(Intel Corp., 5200 N. E. Elam Young Parkway, Hillsboro, Oregon 97124-6497)
,
MAIZ Jose
(Intel Corp., 5200 N. E. Elam Young Parkway, Hillsboro, Oregon 97124-6497)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 89 号： 11 ページ： 113124-113124-3 発行年： 2006年09月11日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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