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J-GLOBAL ID：200902257807314397 整理番号：09A0277469

SOI論理セルにおけるシングルイベント過渡パルス幅のLET依存性

LET Dependence of Single Event Transient Pulse-Widths in SOI Logic Cell

著者 (16件)：

MAKINO Takahiro

(Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa, JPN)

KOBAYASHI Daisuke

(Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa, JPN)

KOBAYASHI Daisuke

(Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)

HIROSE Kazuyuki

(Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa, JPN)

HIROSE Kazuyuki

(Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)

YANAGAWA Yoshimitsu

(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)

SAITO Hirobumi

(Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)

SAITO Hirobumi

(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)

IKEDA Hirokazu

(Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa, JPN)

IKEDA Hirokazu

(Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)

TAKAHASHI Daisuke

(Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)

ISHII Shigeru

(Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)

KUSANO Masaki

(Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)

ONODA Shinobu

(Japan Atomic Energy Agency, Gunma, JPN)

HIRAO Toshio

(Japan Atomic Energy Agency, Gunma, JPN)

OHSHIMA Takeshi

(Japan Atomic Energy Agency, Gunma, JPN)

資料名：

IEEE Transactions on Nuclear Science (IEEE Transactions on Nuclear Science)

巻： 56 号： 1,Pt.2 ページ： 202-207 発行年： 2009年02月
JST資料番号： C0235A ISSN： 0018-9499 CODEN： IETNAE 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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