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J-GLOBAL ID：200902258370419590 整理番号：08A1077540

1-エチル-3-メチルイミダゾリウムビス(トリフルオロメチルスルホニル)イミドRT(室温)イオン液体の飛行時間二次イオン質量分析研究

A time-of-flight secondary ion mass spectroscopy study of 1-ethyl-3-methylimidazolium bis(trifluoromethylsulfonyl)imide RT-ionic liquid

著者 (4件)：

GUENSTER Jens

(International Center for Young Scientists, National Inst. for Materials Sci., 1-1 Namiki, Tsukuba, Ibaraki 305-0044, JPN)

HOEFFT Oliver

(Inst. fuer Metallurgie, Technische Universitaet Clausthal, Robert-Koch-Strasse 42, D-38678 Clausthal-Zellerfeld, DEU)

KRISCHOK Stefan

(Inst. fuer Physik und Inst. fuer Mikro- und Nanotechnologien der TU Ilmenau, P.O. Box 100565, D-98684 Ilmenau, DEU)

SOUDA Ryutaro

(Nanoscale Materials Center, National Inst. for Materials Sci., 1-1 Namiki, Tsukuba, Ibaraki 305-0044, JPN)

資料名：

Surface Science (Surface Science)

巻： 602 号： 21 ページ： 3403-3407 発行年： 2008年11月01日
JST資料番号： C0129B ISSN： 0039-6028 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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