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J-GLOBAL ID：200902258532410117 整理番号：09A0429071

ソフトナノテクノロジーのための計測技術

Measuring Techniques for Soft-Nanotechnology

著者 (12件)：

藤井政俊

(島根大学医学部)

平野愛弓

(東北大学大学院医工学研究科)

山口僚太郎

(東北大学電気通信研究所)

木村康男

(東北大学電気通信研究所)

庭野道夫

(東北大学大学院医工学研究科)

庭野道夫

(東北大学電気通信研究所)

杉山滋

(独立行政法人農業・食品産業技術総合研究機構・食品総合研究所)

山内武志

(独立行政法人農業・食品産業技術総合研究機構・食品総合研究所)

吉野智之

(独立行政法人農業・食品産業技術総合研究機構・食品総合研究所)

桑崎誠剛

(独立行政法人生物資源研究所)

山本公子

(独立行政法人生物資源研究所)

大谷敏郎

(独立行政法人農業・食品産業技術総合研究機構・食品総合研究所)

資料名：

表面科学 (JSSSJ)

巻： 30 号： 4 ページ： 219-228 (J-STAGE) 発行年： 2009年
JST資料番号： F0940B ISSN： 0388-5321 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：解説発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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