文献
J-GLOBAL ID:200902259289393434
整理番号:05A0535166
MOSFET構造における移動度揺動と数揺動
Mobility and Number Fluctuations in MOS Structures
著者 (7件):
HAMAYOSHI Shinichi
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
NAKAMOTO Takayuki
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
WADA Masanori
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
OHKURA Kensaku
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
TABEI Tetsuo
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
IKEDA Mitsuhisa
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
HIGUCHI Katsuhiko
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
44
号:
4B
ページ:
2198-2200
発行年:
2005年04月30日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)