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著者 (4件)：
資料名：
巻： 123 号： 5 ページ： 436-442 発行年： 2003年05月01日
JST資料番号： S0808A ISSN： 0385-4205 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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文献
J-GLOBAL ID：200902260621634732
整理番号：03A0379426
銀小電流真空アークの不安定現象の解析-電子温度のプローブ測定との比較-
An Analysis of the Instability Phenomena of a Low-Current Vacuum Arc for Silver Cathode-A Comparison of Electron Temperature between Probe Measurement and Analysis-
MUNGKUNG N
(日本工大)
,
新井一由
(日本工大)
,
森宮おさみ
(日本工大)
,
上川路徹
(東芝)
資料名：
電気学会論文誌 A
(IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials)
巻： 123 号： 5 ページ： 436-442 発行年： 2003年05月01日
JST資料番号： S0808A ISSN： 0385-4205 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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