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文献
J-GLOBAL ID:200902268917745913   整理番号:04A0873347

共焦点マイクロ蛍光X線イメージングによる痕跡量元素の三次元分析

Three-Dimensional Trace Element Analysis by Confocal X-ray Microfluorescence Imaging
著者 (8件):
VINCZE L
(Univ. Antwerp, Wilrijk, BEL)
VEKEMANS B
(Univ. Antwerp, Wilrijk, BEL)
BRENKER F E
(Univ. Cologne, Cologne, DEU)
FALKENBERG G
(Hamburger Synchrotronstrahlungenslabor at Deutsches Elektronen-Synchrotron, Hamburg, DEU)
RICKERS K
(Hamburger Synchrotronstrahlungenslabor at Deutsches Elektronen-Synchrotron, Hamburg, DEU)
SOMOGYI A
(ID22, ESRF, Grenoble, FRA)
KERSTEN M
(Univ. Mainz, Mainz, DEU)
ADAMS F
(Univ. Antwerp, Wilrijk, BEL)

資料名:
Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)

巻: 76  号: 22  ページ: 6786-6791  発行年: 2004年11月15日 
JST資料番号: A0395A  ISSN: 0003-2700  CODEN: ANCHAM  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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