Sorry, this section is only available in Japanese.
著者 (6件)：
資料名：
巻： 16 号： 2 ページ： 233-238 発行年： 2003年05月
JST資料番号： T0521A ISSN： 0894-6507 CODEN： ITSMED 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：200902269315959285
整理番号：03A0394425
MOSFETからのホットキャリア誘起光電子放出のスペクトル解析のためのテスト構造
A Test Structure for Spectrum Analysis of Hot-Carrier-Induced Photoemission From MOSFETs
MATSUDA T
(Toyama Prefectural Univ., Toyama, JPN)
,
OHZONE T
(Okayama Prefectural Univ., Okayama, JPN)
,
ODANAKA S
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
YAMASHITA K
(Matsushita Electric Industrial Co. Ltd., Kyoto, JPN)
,
KOIKE N
(Matsushita Electric Industrial Co. Ltd., Kyoto, JPN)
,
TATSUUMA K
(Matsushita Electric Industrial Co. Ltd., Kyoto, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
(IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing)
巻： 16 号： 2 ページ： 233-238 発行年： 2003年05月
JST資料番号： T0521A ISSN： 0894-6507 CODEN： ITSMED 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。