文献
J-GLOBAL ID:200902270049914538
整理番号:03A0542472
真空アーク蒸着したTiN/c-Si被覆層の結晶粒径,内部応力,硬さに対する基板バイアス電位の影響
Effect of the substrate bias potential on crystalline grain size, intrinsic stress and hardness of vacuum arc evaporated TiN/c-Si coatings
著者 (4件):
ESPINOZA-BELTRAN F J
(CINVESTAV-IPN, Qro., MEX)
,
CHE-SOBERANIS O
(CINVESTAV-IPN, Qro., MEX)
,
GARCIA-GONZALEZ L
(CINVESTAV-IPN, Qro., MEX)
,
MORALES-HERNANDEZ J
(Univ. Autonoma de Queretaro, Qro., MEX)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
437
号:
1/2
ページ:
170-175
発行年:
2003年08月01日
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)