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文献
J-GLOBAL ID:200902270049914538   整理番号:03A0542472

真空アーク蒸着したTiN/c-Si被覆層の結晶粒径,内部応力,硬さに対する基板バイアス電位の影響

Effect of the substrate bias potential on crystalline grain size, intrinsic stress and hardness of vacuum arc evaporated TiN/c-Si coatings
著者 (4件):
ESPINOZA-BELTRAN F J
(CINVESTAV-IPN, Qro., MEX)
CHE-SOBERANIS O
(CINVESTAV-IPN, Qro., MEX)
GARCIA-GONZALEZ L
(CINVESTAV-IPN, Qro., MEX)
MORALES-HERNANDEZ J
(Univ. Autonoma de Queretaro, Qro., MEX)

資料名:
Thin Solid Films  (Thin Solid Films)

巻: 437  号: 1/2  ページ: 170-175  発行年: 2003年08月01日 
JST資料番号: B0899A  ISSN: 0040-6090  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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