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文献
J-GLOBAL ID:200902270756430229   整理番号:05A0944138

ナノ構造解析へのX線異常分散を活用した小角X線散乱の応用

Application of Small-Angle X-ray Scattering Utilizing X-ray Anomalous Dispersion to Nano-Structure Analysis
著者 (7件):
SUGIYAMA Masaaki
(Kyoto Univ., Osaka, JPN)
SOEJIMA Yuji
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
HARA Kazuhiro
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
TAKEI Fumie
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
ITOH Keiji
(Kyoto Univ., Osaka, JPN)
MORI Kazuhiro
(Kyoto Univ., Osaka, JPN)
FUKUNAGA Toshiharu
(Kyoto Univ., Osaka, JPN)

資料名:
Transactions of the Materials Research Society of Japan  (Transactions of the Materials Research Society of Japan)

巻: 30  号:ページ: 855-858  発行年: 2005年09月 
JST資料番号: L4468A  ISSN: 1382-3469  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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