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J-GLOBAL ID：200902271185324015 整理番号：07A0224268

単一分子の評価のための,平面ナノギャップ電極の新しい製造法

Novel fabrication technologies of planar nano-gap electrodes for single molecule evaluation

著者 (15件)：

TSUTSUI Ken

(Nanotechnology Res. Lab., Waseda Univ., Tokyo 162-0041, JPN)

NAKATA Masashi

(Graduate School of Sci. and Engineering, Waseda Univ., Tokyo, JPN)

NAKATA Masashi

(CREST-JST)

MORITA Masayuki

(Nanotechnology Res. Lab., Waseda Univ., Tokyo 162-0041, JPN)

TOKUDA Masahide

(Nanotechnology Res. Lab., Waseda Univ., Tokyo 162-0041, JPN)

NAGATSUMA Kazuyuki

(Nanotechnology Res. Lab., Waseda Univ., Tokyo 162-0041, JPN)

ONOZATO Harumasa

(Nanotechnology Res. Lab., Waseda Univ., Tokyo 162-0041, JPN)

KANEKO Tadao

(Nanotechnology Res. Lab., Waseda Univ., Tokyo 162-0041, JPN)

EDURA Tomohiko

(Nanotechnology Res. Lab., Waseda Univ., Tokyo 162-0041, JPN)

MITA Yoshio

(VDEC, The Univ. of Tokyo, Tokyo, JPN)

KOINUMA Hideomi

(Graduate School of Frontier Sciences, The Univ. of Tokyo, Tokyo, JPN)

KOINUMA Hideomi

(CREST-JST)

WADA Yasuo

(Nanotechnology Res. Lab., Waseda Univ., Tokyo 162-0041, JPN)

WADA Yasuo

(Graduate School of Sci. and Engineering, Waseda Univ., Tokyo, JPN)

WADA Yasuo

(CREST-JST)

資料名：

Current Applied Physics (Current Applied Physics)

巻： 7 号： 4 ページ： 329-333 発行年： 2007年05月
JST資料番号： W1579A ISSN： 1567-1739 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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