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文献
J-GLOBAL ID:200902275621933494   整理番号:09A0334313

積み重ねたGe/Si/SiO2構造の固相結晶化へのSi層厚みの効果

Effects of Si Layer Thickness on Solid-Phase Crystallization of Stacked Ge/Si/SiO2 Structures
著者 (3件):
SADOH Taizoh
(Kyusyu Univ., Fukuoka, JPN)
OHTA Hiroki
(Kyusyu Univ., Fukuoka, JPN)
MIYAO Masanobu
(Kyusyu Univ., Fukuoka, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)

巻: 48  号: 3,Issue 3  ページ: 03B004.1-03B004.3  発行年: 2009年03月25日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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