文献
J-GLOBAL ID:200902277260047985
整理番号:06A0896385
原子間力顕微鏡用のチップキャラクタライザー
Tip characterizer for atomic force microscopy
著者 (3件):
ITOH Hiroshi
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., AIST Tsukuba Central 2, 1-1 Umezono 1-Chome, Tsukuba-shi ...)
,
FUJIMOTO Toshiyuki
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., AIST Tsukuba Central 2, 1-1 Umezono 1-Chome, Tsukuba-shi ...)
,
ICHIMURA Shingo
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., AIST Tsukuba Central 2, 1-1 Umezono 1-Chome, Tsukuba-shi ...)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
77
号:
10
ページ:
103704-103704-4
発行年:
2006年10月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)